| 发明名称 | 测量物体的有效原子序数的设备 | ||
| 摘要 | 公开了一种测量物体的有效原子序数的设备。该设备包括：射线源，产生第一能量的第一X射线束和第二能量的第二X射线束；切伦科夫探测器，接收透射被检查物体的第一X射线束和第二X射线束，产生第一探测值和第二探测值；数据处理装置，基于第一探测值和第二探测值得到被检查物体的有效原子序数。由于切伦科夫探测器能够消除特定阈值下的X射线束的影响，所以提高了物质识别的准确度。 | ||
| 申请公布号 | CN202393720U | 申请公布日期 | 2012.08.22 |
| 申请号 | CN201120570717.1 | 申请日期 | 2011.12.30 |
| 申请人 | 同方威视技术股份有限公司;清华大学 | 发明人 | 李树伟;陈志强;李元景;赵自然;刘以农;张清军;朱维斌;王义;赵书清;张文剑 |
| 分类号 | G01N23/087(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/087(2006.01)I |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 王波波 |
| 主权项 | 一种测量物体的有效原子序数的设备，其特征在于，包括：射线源，产生第一能量的第一X射线束和第二能量的第二X射线束；切伦科夫探测器，与所述射线源相对设置，接收透射被检查物体的第一X射线束和第二X射线束，产生第一探测值和第二探测值；数据处理装置，与所述切伦科夫探测器连接，接收第一探测值和第二探测值，输出被检查物体的有效原子序数。 | ||
| 地址 | 100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 | ||