| 摘要 |
Eine abgeschirmte Wirbelstromspulensonde ist auf einer Leiterplatte vorgesehen, wobei die Wirbelstromsonde einen ersten Spulenbestandteil, der eine Prüfspule bildet, und einen zweiten Spulenbestandteil, der eine aktive Abschirmspule bildet, umfasst. Die Prüfspule und die aktive Abschirmspule sind konzentrisch angeordnet und die Anzahl der Wicklungen in der aktiven Abschirmspule und ihre Feldrichtung sind dafür eingerichtet, das induzierte Feld oder das erfasste Feld im Prüfgegenstand auf die der Prüfspule entsprechenden Fläche auf dem Prüfgegenstand zu begrenzen. Auf derselben oder unterschiedlichen Schichten der Leiterplatte können mehrere Gruppen von Prüfspulen mit aktiven Abschirmspulen vorgesehen sein, um unterschiedliche Erreger-, Empfänger- und kombinierte Erreger-/Empfängerspulenkonfigurationen herzustellen. |
