发明名称 基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量的方法与装置
摘要 一种基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量方法和装置,本发明的实质是采用飞秒激光脉冲经三阶非线性效应介质产生的所述的瞬态光栅信号光波作参考光束对飞秒激光脉冲进行自参考光谱干涉测量。通过测量干涉光谱,利用自参考光谱相干方法来反演计算获得激光光谱和光谱相位,从而可以测量激光脉冲宽度与脉冲形状。本发明具有结构简单,计算速度快的特点,不需要偏振光学元件,减少了入射激光色散,可以测量10-300fs范围内不同波长的激光脉冲;本发明可进行单次脉冲测量,可用于飞秒激光脉冲的实时监测,获得的光谱相位反馈到相关的相位补偿装置,可优化飞秒激光脉冲输出。
申请公布号 CN102636272A 申请公布日期 2012.08.15
申请号 CN201210079324.X 申请日期 2012.03.22
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 刘军;李方家;李儒新
分类号 G01J11/00(2006.01)I;G01J3/28(2006.01)I 主分类号 G01J11/00(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 张泽纯
主权项 一种基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲的自参考光谱干涉测量方法,特征在于该方法包括下列步骤:①采用飞秒激光脉冲通过三阶非线性介质产生的瞬态光栅,获得飞秒激光脉冲的自参考光;②通过高光谱精度的光谱仪(9)对飞秒激光脉冲及其自参考光的进行自参考光谱干涉测量获得光谱干涉条纹D(ω,τ);③对所述的光谱干涉条纹D(ω,τ)利用自参考光谱相干反演方法计算获得激光光谱和光谱相位,从而可以测量激光脉冲宽度与脉冲形状。
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