Method for locating surface defects

摘要

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Auffinden von Oberflächenfehlern, auf der Oberfläche von Gegenständen (1) mit einem Zeilensensor (2), mit zumindest zwei gegenüber dem Zeilensensor (2) lagefest angeordneten Lichtquellen (31, 32), wobei der Zeilensensor (2) jeweils eine Anzahl von Pixelsensoren (21) zur separaten Erkennung des Lichts einer der beiden Lichtquellen (31, 32) aufweist, wobei jeder der Pixelsensoren (21) die Lichtintensität (r<Sub>t</Sub>, b<Sub>t</Sub>) des von den beiden Lichtquellen (31, 32) auf ihn reflektierten Lichts misst, wobei der Zeilensensor (2) und die Lichtquellen (31, 32) eine Relativbewegung zum Gegenstand (1) vollführen.

<Paragraphs id="pa02" num="0002" xmlns:base="http://www.sipo.gov.cn/XMLSchema/base">Erfindungsgemäß ist vorgesehen, dass für zumindest einen Pixelsensor (21) und zumindest einen Zeitpunkt (t) jeweils ein erster Mittelwert (rt,M) und ein zweiter Mittelwert (bt,M) für die erste Lichtintensität (rt) und die zweite Lichtintensität (bt) ermittelt wird, dass für einen einen vorgegebenen einem Zeitversatz entsprechenden Wert (d) die folgenden Kriterien (T1d, T2d, T3d, T4d) überprüft werden T1⁢d:rt+d/rt,M<1/trT2⁢d:rt-d/rt,M>trT3⁢d:bt-d/bt,M<1/tbT4⁢d:bt+d/bt,M>tb,
und eine Kante (16, 18) eines Ausbruchs (11) oder ein Fehler der Oberfläche dann als vorhanden detektiert wird, wenn eine bestimmte Anzahl der Kriterien (T1d, T2d, T3d, T4d) erfüllt ist.