发明名称 | 薄膜伪参比电极及其制备方法 | ||
摘要 | 本发明涉及薄膜伪参比电极及其制备方法,其中参比电极(1)包括由氧化的硅晶片制成的基底(2),所述基底上有单层的银薄膜(3),薄膜的厚度在100-1500nm之间,是采用溅射技术直接沉积的。 | ||
申请公布号 | CN102639994A | 申请公布日期 | 2012.08.15 |
申请号 | CN201080049792.1 | 申请日期 | 2010.10.15 |
申请人 | 经济转型研究中心 | 发明人 | L·阿诺尔加戈麦斯;S·阿拉纳阿隆索 |
分类号 | G01N27/30(2006.01)I;C23C14/34(2006.01)I | 主分类号 | G01N27/30(2006.01)I |
代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人 | 于辉 |
主权项 | 一种薄膜伪参比电极,其可结合在电化学生物传感器中,所述的电化学生物传感器包括工作电极、辅助电极或对电极、以及参比电极,其特征在于,所述伪参比电极(1)包括由氧化的硅晶片形成的基材(2),并且在所述基材(2)的硅晶片上直接沉积有厚度为100nm‑1500nm的单层的银薄膜(3)。 | ||
地址 | 西班牙圣塞巴斯蒂安 |