用于产生记忆体瑕疵对映图及使用该记忆体瑕疵对映图以优化效能之方法

摘要

所揭示系一种用以储存一个记忆体瑕疵对映图之方法，藉此，一个记忆体组件，可在被制造时就瑕疵加以测试，以及任何被侦测到之记忆体瑕疵，系使储存在一个记忆体瑕疵对映图内，以及被用来优化该系统之效能。该记忆体瑕疵对映图会被更新，以及该系统被优化为新记忆体瑕疵之重新对映资源，会在运作期间被侦测到。