用于检测多数个电子元件的外观之检测系统及其使用方法

摘要

一种用于检测多数个电子元件的外观之检测系统，其包括：一转盘模组、一进料模组及一检测模组。该转盘模组系具有一底盘结构及一设置于该底盘结构上端之中空透明转盘结构。该进料模组系设置于该中空透明转盘结构之一侧，以将该等电子元件依序导引至该中空透明转盘结构的上表面。该检测模组系具有复数组依序环绕该中空透明转盘结构之检测单元，并且每一组检测单元系由一用于感测该等电子元件之影像感测元件、一用于撷取该等电子元件的表面影像之影像撷取元件及一用于将该等电子元件进行分类之分料元件所组成。