发明名称 通用的多种材料间全限制量子点的自对准制备方法
摘要 一种通用的多种材料间全限制量子点的自对准制备方法,包括:在衬底上依次淀积生长电热绝缘材料层、第一功能材料层和牺牲材料层;旋涂SU-8胶并电子束曝光;干法刻蚀至电热绝缘材料层的上表面;淀积第二功能材料层;经电子束曝光形成横向的条形纳米量级的SU-8胶条,并跨越由第一功能材料层;干法刻蚀第二功能材料层至电热绝缘材料层的上表面;腐蚀去除牺牲材料层,暴露出第二功能材料层下方以外的第一功能材料层;干法刻蚀去除第二功能材料层下方以外的第一功能材料层;超声-剥离,制备出第一功能材料层全限制在第二功能材料层间的水平器件结构。本发明藉由线宽控制精度高、定位精确、可拓展性好、制备简单、可靠性高、制备良品率高、研发成本低、可移植性好、经济高效的优点。
申请公布号 CN102623307A 申请公布日期 2012.08.01
申请号 CN201210088596.6 申请日期 2012.03.29
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 付英春;王晓峰;张加勇;白云霞;梁秀琴;马慧莉;季安;杨富华
分类号 H01L21/02(2006.01)I;B82Y40/00(2011.01)I 主分类号 H01L21/02(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 汤保平
主权项 一种通用的多种材料间全限制量子点的自对准制备方法,该方法包括:步骤1:在衬底上生长一层抗腐蚀的电热绝缘材料层,在该电热绝缘材料层上依次淀积第一功能材料层和牺牲材料层;步骤2:在牺牲材料层上旋涂SU‑8胶并电子束曝光,形成纵向的条形纳米量级SU‑8胶掩模;步骤3:通过该SU‑8胶掩模,干法刻蚀至电热绝缘材料层的上表面;步骤4:在电热绝缘材料层、条形的第一功能材料层、牺牲材料层和SU‑8胶掩模结构的裸露表面,淀积第二功能材料层;步骤5:在第二功能材料层上旋涂SU‑8胶并电子束曝光,形成横向的条形纳米量级的SU‑8胶条,并跨越由第一功能材料层、牺牲材料层和SU‑8胶掩模叠成的纵向条形结构;步骤6:通过SU‑8胶条掩模,干法刻蚀第二功能材料层至电热绝缘材料层的上表面;步骤7:腐蚀去除牺牲材料层,暴露出第二功能材料层下方以外的第一功能材料层;步骤8:通过第二功能材料层上部的SU‑8胶条掩模,干法刻蚀去除第二功能材料层下方以外的第一功能材料层;步骤9:超声‑剥离,制备出第一功能材料层全限制在第二功能材料层间的水平器件结构,完成制备。
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