首页
产品
黄页
商标
征信
会员服务
注册
登录
全部
|
企业名
|
法人/股东/高管
|
品牌/产品
|
地址
|
经营范围
发明名称
Apparatus to measure homogeneity of silicon single crystal irradiation
摘要
申请公布号
CZ24114(U1)
申请公布日期
2012.07.25
申请号
CZ20120026214U
申请日期
2012.06.14
申请人
CENTRUM VYZKUMU RE× S.R.O.
发明人
VIERERBL LADISLAV;KLUPAK VIT
分类号
G01T1/203;G01T1/166
主分类号
G01T1/203
代理机构
代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
Dynamisches Drucklager für eine Röntgenröhre mit Drehanode
Verfahren zur thermischen Herstellung von Bildern aus metastabilen Metallkolloiden
Chirurgisches Instrument.
Kytkentäjärjestely digitaalisen audiosignaaliprosessorin virtuaalisen dynamiikka-alueen laajentamiseksi
Menetelmä ja laite tuikevalopulssien laskemiseksi
Kantorakenteella varustettu katsomo
Trainingsgerät
Menetelmä angiotensiini II-reseptoreja salpaavien imidatsolien valmistamiseksi
Dispergoitu hiukkasmainen koostumus
BAFBR:EU-PHOSPHORE UND VERFAHREN ZU DEREN HERSTELLUNG.
Scanner-Vorrichtung
FIBER-OPTIC INTERFACE SYSTEM
WIPER CARTRIDGE
STUD WELDING DEVICE
WIDE BAND RADIO-FREQUENCY CONVERTER HAVING MULTIPLE USE OF INTERMEDIATE FREQUENCY TRANSLATORS
SABELUZOLE ORAL SUSPENSIONS
PARTICLES INCLUDING DEGRADABLE MATERIAL AND ANTI-MICROBIAL AGENT
A METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING DIFFERENTIAL OXYGEN CONCENTRATION BETWEEN TWO FLOWING GAS STREAMS
NUCLEAR GAUGE WITH COMPENSATION FOR SAMPLE IRREGULARITIES
OVERSHOE OR WEATHER-PROTECTIVE SHOE INCORPORATING WATER-JET SQUIRTING DEVICE