重复测试电组件的方法和机器

摘要

一种方法(1000，1100，1200，1300，1400)自动测试电子组件(12，120)的参数以确定该组件(12，120)是否具有可接受的值。方法(1000，1100，1200，1300，1400)采用自动电子组件测试机(2)，其具有至少第一和第二测量位置，可在这些测量位置测量参数。当值实际上是可接受的时候，测试程序本身可能错误地导致该值看起来不可接受。方法(1000，1100，1200，1300，1400)将组件(12，120)放置在第一测量位置并在第一测量位置测量参数，由此生成第一被测参数值。方法(1000，1100，1200，1300，1400)也将组件(12，120)放置在第二测量位置并在第二测量位置测量参数，由此生成第二被测参数值。只有当所有被测值都不可接受时，方法(1000，1100，1200，1300，1400)才拒绝组件(12，120)，从而使错误拒绝组件(12，120)的概率比如果只执行单个测量步骤而错误拒绝组件(12，120)的概率要小。

主权项

一种用于自动测试电子组件的参数以确定所述组件是否具有可接受的参数值的方法，其采用自动电子组件测试机，该自动电子组件测试机具有上侧电触点，所述测试机具有至少第一和第二测量位置，可在这些位置测量所述电子组件的参数，其中，当所述参数值实际上是可接受的时候，测试方法本身可能错误地引起所述参数值看起来不可接受，在常规测试周期期间，所述方法包括：在第一放置步骤，将所述组件放置在第一测量位置，其中所述组件具有在组件座中的朝下的任一电极，以使所述组件的下电极电连接到下侧电触点以及所述组件的上电极电连接到所述上侧电触点；在第一测量步骤，在所述第一测量位置测量所述组件的所述参数，由此生成第一被测参数值；在第二放置步骤，通过引起所述组件座和所述上侧电触点之间的相对运动，将所述组件放置在所述第二测量位置；在第二测量步骤，在所述第二测量位置测量所述组件的所述参数，由此生成第二被测参数值；和只有当对于所述参数的所有被测参数值都不可接受时，才拒绝所述组件，以此，所述方法错误拒绝所述组件的总概率比只执行单个测试步骤的要小。