基于SEM图像的低维纳米材料识别方法

摘要

本发明属于计算机模式识别和纳米材料的交叉技术领域，涉及一种基于SEM图像的低维纳米材料识别方法，包括(1)对已知的纳米材料SEM图像样本做预处理；(2)对预处理后的图像进行二维小波包变换，得到不同频带上的子图矩阵；(3)对各频带子图矩阵进行特征提取，各子图矩阵的统计量作为表征纳米材料表面纹理结构的特征值；(4)根据所提取特征值，采用高斯径向基核函数作为支持向量机核函数，在任意两类之间寻找最优分类面，建立不同种类的纳米材料的分类模型；(5)提取未知的纳米材料SEM图像样本纹理特征值，再根据(4)步得到的分类模型，采用投票法进行未知的纳米材料识别。本发明能更加准确高效地表征和区分不同的纳米材料结构类型，具有准确率高、扩展性强、自动化程度高等优点。

主权项

一种基于SEM图像的低维纳米材料识别方法，其特征在于，包括下列步骤：(1)对已知的纳米材料SEM图像样本做预处理；(2)对预处理后的图像进行二维小波包变换，得到不同频带上的子图矩阵；(3)将各频带子图矩阵的均值和均方差作为纳米材料纹理特征量，并以此进行分类和识别；(4)根据所提取的纳米材料纹理特征量，采用高斯径向基核函数作为支持向量机核函数，在任意两类之间寻找最优分类面，建立不同种类的纳米材料的分类模型；(5)对未知的纳米材料SEM图像样本重复步骤(1)、(2)、(3)步提取表征纳米材料表面纹理结构的特征值，再根据(4)步得到的分类模型，采用投票法进行未知的纳米材料识别。