| 发明名称 | 过渡金属磷酸盐及钠二次电池 | ||
| 摘要 | 本发明提供过渡金属磷酸盐及钠二次电池。该过渡金属磷酸盐是含有Na、P及M(这里，M表示选自过渡金属元素中的1种以上的元素。)的过渡金属磷酸盐，利用以下的粉末X射线衍射测定确定的I/I0的值为0.6以下。<粉末X射线衍射测定>是如下的方法，即，通过向以使过渡金属磷酸盐∶硅的重量比为8∶1的方式含有过渡金属磷酸盐和硅的混合物照射CuKα射线而得到X射线衍射谱图，将该X射线衍射谱图中的过渡金属磷酸盐的最大峰的强度设为I，将硅的最大峰的强度设为I0，用I0除I，来确定I/I0的值。 | ||
| 申请公布号 | CN102574687A | 申请公布日期 | 2012.07.11 |
| 申请号 | CN201080044975.4 | 申请日期 | 2010.10.05 |
| 申请人 | 住友化学株式会社 | 发明人 | 坂舞子 |
| 分类号 | C01B25/45(2006.01)I;H01M4/58(2006.01)I | 主分类号 | C01B25/45(2006.01)I |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 蒋亭 |
| 主权项 | 一种过渡金属磷酸盐，是含有Na、P及M的过渡金属磷酸盐，其中M表示选自过渡金属元素中的1种以上的元素，其特征在于，利用以下的粉末X射线衍射测定确定的I/I0的值为0.6以下；<粉末X射线衍射测定>是如下的方法，即，通过向以使过渡金属磷酸盐∶硅的重量比为8∶1的方式含有过渡金属磷酸盐和硅的混合物照射CuKα射线而得到X射线衍射谱图，将该X射线衍射谱图中的过渡金属磷酸盐的最大峰的强度设为I，将硅的最大峰的强度设为I0，用I0除I，来确定I/I0的值。 | ||
| 地址 | 日本国东京都 | ||