发明名称 |
一种通过载波平滑进行伪距观测量估计的方法和装置 |
摘要 |
本发明提供了一种通过载波平滑进行伪距观测量估计的方法和装置;方法包括:分别获取n个频点的伪距和载波相位观测量;n为大于或等于2的整数;分别在各频点同时进行载波平滑伪距操作,得到平滑后的伪距<img file="dda0000042421140000011.GIF" wi="49" he="67" />;将多个频点的平滑后的伪距组成量测方程;根据量测方程进行估值,将所得到的r的估值作为伪距观测量估计值。本发明在大为降低的多径和测量噪声基础上,剔除了电离层的影响,从而显著提高伪距的估计精度。 |
申请公布号 |
CN102565813A |
申请公布日期 |
2012.07.11 |
申请号 |
CN201010619774.4 |
申请日期 |
2010.12.31 |
申请人 |
和芯星通科技(北京)有限公司 |
发明人 |
邱剑宁;韩绍伟;莫钧 |
分类号 |
G01S19/07(2010.01)I;G01S19/22(2010.01)I |
主分类号 |
G01S19/07(2010.01)I |
代理机构 |
北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 |
代理人 |
栗若木;王漪 |
主权项 |
1.一种通过载波平滑进行伪距观测量估计的方法,包括:分别获取n个频点的伪距和载波相位观测量;n为大于或等于2的整数;分别在各频点同时进行载波平滑伪距操作,得到平滑后的伪距<img file="FDA0000042421110000011.GIF" wi="48" he="68" />;将多个频点的平滑后的伪距组成量测方程:Z=HX+V;其中:<maths num="0001"><![CDATA[<math><mrow><mi>Z</mi><mo>=</mo><mfenced open='[' close=']'><mtable><mtr><mtd><msub><mover><mi>P</mi><mo>~</mo></mover><mn>1</mn></msub></mtd></mtr><mtr><mtd><msub><mover><mi>P</mi><mo>~</mo></mover><mn>2</mn></msub></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>.</mo><mo>.</mo><mo>.</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><msub><mover><mi>P</mi><mo>~</mo></mover><mi>n</mi></msub></mtd></mtr></mtable></mfenced><mi>H</mi><mo>=</mo><mfenced open='[' close=']'><mtable><mtr><mtd><mfrac><msub><mi>d</mi><mn>1</mn></msub><msup><msub><mi>f</mi><mn>1</mn></msub><mn>2</mn></msup></mfrac></mtd><mtd><msub><mi>d</mi><mn>2</mn></msub></mtd></mtr><mtr><mtd><mfrac><msub><mi>d</mi><mn>1</mn></msub><msup><msub><mi>f</mi><mn>2</mn></msub><mn>2</mn></msup></mfrac></mtd><mtd><msub><mi>d</mi><mn>2</mn></msub></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>.</mo><mo>.</mo><mo>.</mo></mtd><mtd></mtd></mtr><mtr><mtd><mfrac><msub><mi>d</mi><mn>1</mn></msub><msup><msub><mi>f</mi><mi>n</mi></msub><mn>2</mn></msup></mfrac></mtd><mtd><msub><mi>d</mi><mn>2</mn></msub></mtd></mtr></mtable></mfenced></mrow></math>]]></maths><maths num="0002"><![CDATA[<math><mrow><mi>X</mi><mo>=</mo><mfenced open='[' close=']'><mtable><mtr><mtd><msub><mi>TEC</mi><mi>eff</mi></msub></mtd></mtr><mtr><mtd><mi>r</mi></mtd></mtr></mtable></mfenced><mi>V</mi><mo>=</mo><mfenced open='[' close=']'><mtable><mtr><mtd><msub><mi>δ</mi><msub><mover><mi>P</mi><mo>~</mo></mover><mn>1</mn></msub></msub></mtd></mtr><mtr><mtd><msub><mi>δ</mi><msub><mover><mi>P</mi><mo>~</mo></mover><mn>2</mn></msub></msub></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>.</mo><mo>.</mo><mo>.</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><msub><mi>δ</mi><msub><mover><mi>P</mi><mo>~</mo></mover><mi>n</mi></msub></msub></mtd></mtr></mtable></mfenced><mo>;</mo></mrow></math>]]></maths>TEC<sub>eff</sub>和r为待估计量,f<sub>i</sub>为频点i的频率,<img file="FDA0000042421110000014.GIF" wi="45" he="63" />为频点i上被充分抑制的伪距测量噪声和多径;i为从1开始,到n为止的整数,包括1和n;d<sub>1</sub>和d<sub>2</sub>为常数;根据上述量测方程对TEC<sub>eff</sub>和r进行估值,将所得到的r的估值作为伪距观测量估计值。 |
地址 |
100085 北京市海淀区上地信息路11号彩虹大厦南楼3层312室 |