发明名称 |
切割半导体结构的方法 |
摘要 |
本发明的实施例包括一种切割半导体结构的方法。在半导体衬底上方提供器件层。器件层具有第一芯片区域和第二芯片区域。划线区域位于第一芯片区域和第二芯片区域之间。保护层形成在器件层上方。从而形成在半导体衬底的上方。对划线区域之上的保护层进行激光切割,以形成切口。切口延伸至半导体衬底中,并且将保护层形成为覆盖部分切口。穿过保护层的部分和衬底,进行机械切割,以将第一芯片区域和第二芯片区域分离。 |
申请公布号 |
CN102543868A |
申请公布日期 |
2012.07.04 |
申请号 |
CN201110217321.3 |
申请日期 |
2011.07.29 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
古进誉;游秀美;林峻莹;连永昌;邱圣翔;于达人 |
分类号 |
H01L21/78(2006.01)I;B23K26/00(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/78(2006.01)I |
代理机构 |
北京德恒律师事务所 11306 |
代理人 |
陆鑫;高雪琴 |
主权项 |
一种方法,包括:在半导体衬底上方提供器件层,所述器件层具有第一芯片区域和第二芯片区域、以及位于所述第一芯片区域和所述第二芯片区域之间的划线区域;在所述器件层上方形成保护层;对所述划线区域上的所述保护层进行激光切割,以形成切口(123),所述切口延伸至所述衬底中,并且由所述保护层的一部分填充;穿过所述保护层的所述一部分和所述半导体衬底进行机械切割,以将所述第一芯片区域和所述第二芯片区域分离。 |
地址 |
中国台湾新竹 |