| 发明名称 | 珍珠品质的非破坏判定方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及非破坏性地判定珍珠品质的方法，该方法通过测定作为被检体的珍珠或珍珠贝壳的紫外区～可见区的反射光谱和/或紫外区～可见区的荧光光谱，并将得到的值与预先测定的正常的珍珠或珍珠贝壳的值进行比较，来非破坏性地判定珍珠品质。本发明还涉及珍珠品质的非破坏性检查装置。根据本发明，可以非破坏性地、并且简便且快速判定目标珍珠或珍珠贝壳的品质。 | ||
| 申请公布号 | CN102549411A | 申请公布日期 | 2012.07.04 |
| 申请号 | CN201080002848.8 | 申请日期 | 2010.12.27 |
| 申请人 | 株式会社御木本 | 发明人 | 永井清仁;平松润一;岩桥德典 |
| 分类号 | G01N21/87(2006.01)I;G01N21/27(2006.01)I;G01N21/64(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/87(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 吴娟;高旭轶 |
| 主权项 | 非破坏性地判定珍珠品质的方法，该方法通过测定作为被检体的珍珠或珍珠贝壳的紫外区～可见区的反射光谱和/或紫外区～可见区的荧光光谱，并将得到的值与预先测定的正常的珍珠或珍珠贝壳的值进行比较，来非破坏性地判定珍珠品质。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||