发明名称 一种含有停止层的集成电路介电层结构
摘要 本发明公开了一种含有停止层的集成电路介电层结构,包括第一介电层、金属层和第二介电层;第一介电层上设置有第一金属导孔,第二介电层上设置有第二金属导孔,第一金属导孔和第二金属导孔形成堆叠金属导孔,其中,金属层与第二介电层之间设置有停止层,该停止层的材质不同于金属层和第二介电层的材质;或者,第二介电层内部设置有停止层,该停止层的材质不同于第二介电层中的其它材质。本发明设置有材质不同的停止层,利用其相同蚀刻工艺不同蚀刻速率的差异,来调节蚀刻深度,因此,本发明能够在保证金属导孔有足够过蚀刻量的前提下,有效减少金属导孔蚀刻的贯通量,进而能够避免后续溶剂清除过程中金属导孔钨栓塞被侵蚀,提高产品良率。
申请公布号 CN102543942A 申请公布日期 2012.07.04
申请号 CN201010579276.1 申请日期 2010.12.08
申请人 和舰科技(苏州)有限公司 发明人 任丙振;张进刚
分类号 H01L23/522(2006.01)I;H01L23/532(2006.01)I 主分类号 H01L23/522(2006.01)I
代理机构 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 代理人 王光辉
主权项 一种含有停止层的集成电路介电层结构,包括第一介电层,所述第一介电层上设置有金属层,所述金属层上设置有第二介电层;其中,所述第一介电层上设置有第一金属导孔,所述第二介电层上设置有第二金属导孔,所述第一金属导孔和第二金属导孔形成堆叠金属导孔,其特征在于,所述金属层与第二介电层之间设置有停止层,该停止层的材质不同于所述金属层和第二介电层的材质;或者,所述第二介电层内部设置有停止层,该停止层的材质不同于所述第二介电层中的其它材质。
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