发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 本发明的目的在于,提供一种能增加单元的有效面积,抑制不平衡动作等的半导体装置及其制造方法。涉及本发明的半导体装置具备:第1栅极布线(5),经未被第1层间绝缘膜(8)覆盖的上表面与栅极电极(20)连接;第2层间绝缘膜(80),覆盖第1栅极布线(5)的除上表面的一部分的区域,形成于第1层间绝缘膜(8)上;以及第2栅极布线(16),经未被第2层间绝缘膜(80)覆盖的上表面与第1栅极布线(5)连接,在俯视时,第2栅极布线(16)的宽度比第1栅极布线(5)的宽度宽。
申请公布号 CN102544002A 申请公布日期 2012.07.04
申请号 CN201110265359.8 申请日期 2011.09.08
申请人 三菱电机株式会社 发明人 铃木健司
分类号 H01L27/06(2006.01)I;H01L29/739(2006.01)I;H01L29/08(2006.01)I;H01L21/331(2006.01)I;H01L21/329(2006.01)I 主分类号 H01L27/06(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 毛立群;王忠忠
主权项 一种半导体装置,其特征在于,具备:栅极电极,与多个单元的单独栅极电极连接,在绝缘膜上有选择地形成;第1层间绝缘膜,覆盖所述栅极电极的除上表面的一部分的区域,形成于所述绝缘膜上;第1栅极布线,经未被所述第1层间绝缘膜覆盖的所述上表面与所述栅极电极连接;第2层间绝缘膜,覆盖所述第1栅极布线的除上表面的一部分的区域,形成于所述第1层间绝缘膜上;以及第2栅极布线,经未被所述第2层间绝缘膜覆盖的所述上表面与所述第1栅极布线连接,在俯视时,所述第2栅极布线的宽度比所述第1栅极布线的宽度宽。
地址 日本东京都