发明名称 温度试验装置
摘要 本实用新型为一种温度试验装置包含:测试槽、风机、升降温单元、温度设定单元、检温单元以及控制单元。在该测试槽中有一开口;风机在开口处形成风帘;升降温单元,能加热测试槽内空气的加热单元、冷却测试槽内空气的冷却单元;温度设定单元,产生设定讯号;检温单元产生温度讯号;控制单元,根据上述设定讯号及上述温度讯号,控制上述升降温单元的运作/非运作,以使得上述槽内温度与上述设定温度接近,而且在该温度试验装置中,上述风机所形成的风帘以多层方式形成在测试槽内和开口之间。
申请公布号 CN202305712U 申请公布日期 2012.07.04
申请号 CN201120442399.0 申请日期 2011.11.09
申请人 高见泽电脑科技股份有限公司 发明人 土田直文
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 代理人 张涛
主权项 一种温度试验装置,其特征在于,包含:测试槽,在该测试槽中用来隔绝外面和槽内的隔墙一部分上具有用以使测试件送进及送出的开口;风机,沿上述测试槽的上述开口形成风帘;升降温单元,包含加热上述测试槽内空气的加热单元、冷却上述测试槽内空气的冷却单元;温度设定单元,产生设定讯号用以表示上述测试槽内的设定温度;检温单元,设置在上述测试槽内,并与该测试槽的槽内温度相对应地产生温度讯号;以及控制单元,根据上述设定讯号及上述温度讯号,控制上述升降温单元的运作/非运作,以使得上述槽内温度与上述设定温度接近,而且在该温度试验装置中,上述风机所形成的风帘以多层方式形成在测试槽内和开口之间,并且该多层风帘的至少一层在其形成过程中经过上述升降温单元的一部分。
地址 日本东京都中野区中央2目48番5号