发明名称 |
基于高光谱的复合绝缘子运行状态分类方法 |
摘要 |
本发明提供一种基于高光谱的复合绝缘子运行状态分类方法,首先获取复合绝缘子高光谱影像,对高光谱影像进行预处理,然后将已知状态的像素作为样本,选取训练样本,针对每种状态提取光谱特征,构建光谱特征空间,最后,采用最大似然分类法分类,识别未知复合绝缘子像素的状态。本发明基于高光谱的复合绝缘子运行状态分类方法,用高光谱成像仪进行非接触式检测,操作简单,适合现场带电检测,对运行状态识别的效果较好;同时,本分类方法能够直接从影像上识别复合绝缘子的运行状态,不必拆卸复合绝缘子,不必停运线路,为大范围复合绝缘子状态检修提供基础,满足我国复合绝缘子运行状态检测的需求。 |
申请公布号 |
CN102520286A |
申请公布日期 |
2012.06.27 |
申请号 |
CN201110419623.9 |
申请日期 |
2011.12.15 |
申请人 |
国网电力科学研究院 |
发明人 |
付晶;邵瑰玮;陈怡;蔡焕青 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I;G01N21/25(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
武汉帅丞知识产权代理有限公司 42220 |
代理人 |
朱必武;周瑾 |
主权项 |
一种基于高光谱的复合绝缘子运行状态分类方法,其特征在于,包括以下步骤:1)用高光谱成像仪对复合绝缘子成像,获取复合绝缘子的高光谱影像;2)影像预处理:对复合绝缘子的影像进行预处理,包括几何校正、滤波去噪、辐射校正,以获得较为精确的光谱信息;3)选取训练样本:先确定状态数,然后将已知状态的像素作为样本,选取每种状态的样本;4)构建光谱特征空间:对选取的训练样本进行特征选择,先求标准化距离,选取标准化距离最大的波段作为特征波段;然后由训练样本和特征波段构建光谱特征空间;5)状态分类:对目标复合绝缘子光谱信息,采用最大似然分类法对各个像素逐个分类,最后,汇集各个像素的状态信息,获取目标复合绝缘子整体状态信息。 |
地址 |
210003 江苏省南京市南瑞路8号 |