| 发明名称 | 用于定量实时分析荧光样品的方法和装置 | ||
| 摘要 | 提供了用于定量实时分析荧光样品的方法，其中，所述样品中的每一个被样品单用光源(12)激励而发荧光，并且测量样品发射的光的强度。为减少分析时间，为了即使在光强度低时也进行高度精确的测量，每个光源(12)在所定义的间隔期间通过具有恒定脉冲频率的时钟脉冲序列交替地打开和关闭。仅仅在所述光源(12)的开启阶段进行对这些间隔期间的发射光强度的测量。 | ||
| 申请公布号 | CN101617218B | 申请公布日期 | 2012.06.27 |
| 申请号 | CN200780037836.7 | 申请日期 | 2007.10.10 |
| 申请人 | 埃佩多夫股份公司 | 发明人 | N·维特席夫;R·特雷普托;G·J·埃克特;A·席尔 |
| 分类号 | G01N21/64(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/64(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 屠长存 |
| 主权项 | 一种用于定量实时分析荧光样品的方法，其中，所述样品被样品单用的光源(12)激励而发荧光，并且测量荧光样品发出的光的强度，其特征在于：在所定义的连续间隔内，所述荧光样品中的两个成对地被处理：通过具有恒定脉冲频率的时钟脉冲序列使所述荧光样品中的两个的分配的光源(12)周期性地被开启和关闭，以1∶2的占空比产生所述时钟脉冲序列，从而使该对分配的光源中的一个光源(12)被时钟脉冲序列控制，而另一个分配的光源(12)被反向时钟脉冲序列控制，并且对于成对地被处理的样品的各个样品单用的光源(12)仅仅在分配的样品单用的光源(12)的开启阶段测量相应的发射光的强度。 | ||
| 地址 | 德国汉堡 | ||