| 发明名称 | 一种软件测试用例集的精简方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开一种软件测试用例集的精简方法，包括如下步骤：步骤一，将高维空间的测试用例集降至有效的低维参数空间中；以及步骤二，在步骤一的基础上，利用k均值聚类方法选取聚类中心的测试数据作为被测软件系统的测试用例，以构成精简后的测试用例集；本发明克服了目前其他方法中需要先验知识来指导样本集的精简不足之处，通过本发明能够设计出较为合理的测试用例集，从而简化测试工作的复杂度，提高测试效率。 | ||
| 申请公布号 | CN102521376A | 申请公布日期 | 2012.06.27 |
| 申请号 | CN201110428312.9 | 申请日期 | 2011.12.20 |
| 申请人 | 上海电机学院 | 发明人 | 胡静 |
| 分类号 | G06F17/30(2006.01)I;G06F11/36(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/30(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人 | 郑玮 |
| 主权项 | 一种软件测试用例集的精简方法，包括如下步骤：步骤一，将高维空间的测试用例集降至有效的低维参数空间中；以及步骤二，在步骤一的基础上，利用k均值聚类方法选取聚类中心的测试数据作为被测软件系统的测试用例，以构成精简后的测试用例集；其中k值为该低维参数空间的维数。 | ||
| 地址 | 200240 上海市闵行区江川路690号 | ||