发明名称 |
Halbleitervorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung |
摘要 |
Gemäß einer Ausführungsform wird ein Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung bereitgestellt. Das Verfahren umfasst das Bereitstellen einer Maskenschicht, die als Implantationsmaske verwendet wird, wenn ein Dotierungsbereich ausgebildet wird, und die als Ätzmaske verwendet wird, wenn eine Öffnung und ein in der Öffnung ausgebildetes Kontaktelement ausgebildet werden. Das Kontaktelement steht mit dem Dotierungsbereich in Kontakt. |
申请公布号 |
DE102011055816(A1) |
申请公布日期 |
2012.06.21 |
申请号 |
DE20111055816 |
申请日期 |
2011.11.29 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
PRECHTL, GERHARD;MEISER, ANDREAS PETER;OSTERMANN, THOMAS |
分类号 |
H01L21/283;H01L21/265;H01L21/3205;H01L29/73 |
主分类号 |
H01L21/283 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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