发明名称 测定仪器、测定装置和测定方法
摘要 本发明提供测定仪器、测定装置和测定方法。用于分析试样中所含的待测物质的细长形测定仪器具备:第1容器和第2容器、将试样供给至第1容器的第1试样供给口、将试样供给至第2容器的第2试样供给口、板状部件、用于对保持在第2容器内的试样进行光学测定的光学测定部;板状部件相对于细长形测定仪器的长度方向垂直地设置,由此在测定仪器中形成两个空间,其中与第1试样供给口连通的空间作为第1容器发挥功能,另一个空间作为第2容器发挥功能;板状部件具备由开口部构成的第2试样供给口;第1容器具备电极;第2容器具备用来保持用于光学测定的试剂的试剂保持部,不具备电极。
申请公布号 CN101915736B 申请公布日期 2012.06.20
申请号 CN201010261192.3 申请日期 2006.10.24
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 福永淳;中南贵裕;龟井明仁
分类号 G01N21/25(2006.01)I;G01N21/03(2006.01)I;G01N21/59(2006.01)I;G01N27/26(2006.01)I 主分类号 G01N21/25(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 徐殿军
主权项 用于分析试样中所含的待测物质的长方体形状的测定仪器,其具备:用于保持含有待测物质的试样的第1容器和第2容器、用于将所述试样供给至所述第1容器的第1试样供给口、用于将所述试样供给至所述第2容器的第2试样供给口、四边形的板状部件、以及用于对保持在所述第2容器内的所述试样进行光学测定的光学测定部;所述板状部件作为隔板而在所述长方体形状的测定仪器中形成两个空间,所述两个空间中的与第1试样供给口连通的空间作为所述第1容器发挥功能,另一个空间作为所述第2容器发挥功能;所述板状部件具备由开口部构成的所述第2试样供给口;所述第1容器具备电极;所述第2容器具备用来保持用于所述光学测定的试剂的试剂保持部。
地址 日本大阪府