发明名称 |
射频集成电路测试系统及控制方法 |
摘要 |
本发明公开了射频集成电路测试系统,包括上位机、底层硬件控制模块、测试夹具板和可程控测试仪器;其特征在于:在上位机中设置有串口模块、电路功能设置模块和参数测试模块;在底层硬件控制模块中包括单片机,在单片机中设置有MCU串口模块、数据运算模块、MCU功能初始化模块和电路设置操作模块;其中:串口模块用于上位机与底层硬件控制模块的单片机进行通信;电路功能设置模块用于对测试系统的工作模式进行设置和选择;参数测试模块用于对测试参数进行选择,对测试参数进行对应的功能函数设置;提供自动化测试的函数调用;对可程控测试仪器进行读写控制;对测试结果进行合格与否的判断并进行指示;可广泛用于射频电路的控制与测试分析。 |
申请公布号 |
CN102495353A |
申请公布日期 |
2012.06.13 |
申请号 |
CN201110443477.3 |
申请日期 |
2011.12.27 |
申请人 |
重庆西南集成电路设计有限责任公司;中国电子科技集团公司第二十四研究所 |
发明人 |
陈昆;阳润;王露;苏良勇;范麟;唐睿;万天才;徐骅 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01)I;G05B19/042(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 |
重庆市前沿专利事务所 50211 |
代理人 |
郭云 |
主权项 |
射频集成电路测试系统,包括上位机(1)、底层硬件控制模块(2)、测试夹具板(3)和可程控测试仪器(4);其特征在于:在上位机(1)中设置有串口模块(12)、电路功能设置模块(13)和参数测试模块(15);在底层硬件控制模块(2)中包括单片机(5),在单片机(5)中设置有MCU串口模块(51)、数据运算模块(52)、MCU功能初始化模块(53)和电路设置操作模块(54);其中:串口模块(12)用于上位机(1)与底层硬件控制模块(2)的单片机(5)进行通信;电路功能设置模块(13)用于对测试系统的工作模式进行设置和选择;参数测试模块(15)用于对测试参数进行选择,对测试参数进行对应的功能函数设置;提供自动化测试的函数调用;对可程控测试仪器(4)进行读写控制;对测试结果进行合格与否的判断并进行指示; MCU串口模块(51)用于与上位机(1)进行通信,MCU串口模块(51)接收上位机(1)通过串口模块(12)输出的数据,进行处理后输出到数据运算模块(52);数据运算模块(52)用于对接收到的数据进行恢复,给MCU功能初始化模块(53)和电路设置操作模块(54)提供可识别的数据;MCU功能初始化模块(54)对数据运算模块(52)输出的数据进行判断,并通过判断后的结果按数据对执行相应功能的单片机I/O口初始化;电路设置操作模块(54)对数据运算模块(52)输出的数据进行判断,并通过判断后的结果调用对应的功能设置函数,利用已初始化的单片机I/O口对待测射频集成电路进行对应工作模式的控制;待测射频集成电路安装在测试夹具板(3)上,待测射频集成电路通过测试夹具板(3)和底层硬件控制模块(2)与上位机(1)进行通讯,并且,待测射频集成电路通过测试夹具板(3)输出信号到可程控测试仪器(4)或者接收可程控测试仪器(4)输出的信号;可程控测试仪器(4)接收上位机(1)的参数测试模块输出的信号,通过测试夹具板(3)读取待测射频集成电路的数据,输出到上位机(1)。 |
地址 |
400060 重庆市南岸区南坪丹龙路5号B栋5F |