发明名称 晶圆级封装中形成金属线及球底金属之方法
摘要 本发明系揭露一制程以在晶圆级封装中形成金属线及球底金属,包含形成第一介电层于一晶粒之主动表面;进行溅镀制程在该第一介电层上形成一晶种金属层;进行第一电镀制程在该晶种金属层上形成一重布层;进行第二电镀制程在该重布层上形成一接触窗;在该第一介电层、该重布层、及该接触窗上形成第二介电层图案并露出该接触窗;以及在该接触窗上形成导电球。
申请公布号 TWI366257 申请公布日期 2012.06.11
申请号 TW097134771 申请日期 2008.09.10
申请人 育霈科技股份有限公司 新竹县湖口乡新竹工业区光复北路65号 发明人 陈明志;胡迪群;胡玉山
分类号 H01L23/485 主分类号 H01L23/485
代理机构 代理人 江国庆 台北市光复北路11巷46号11楼
主权项
地址 新竹县湖口乡新竹工业区光复北路65号