发明名称 高性能应变源极-漏极结构及其制造方法
摘要 一种用于制造高性能应变源极-漏极结构的方法,包括:在基板上形成栅极结构,在接近栅极结构的位置上形成袋状注入区域;在邻近栅极结构的位置上形成隔离件;实施干式蚀刻,以形成具有第一轮廓的凹部;实施湿式蚀刻,以将凹部扩大成第二轮廓;以及实施热蚀刻,以将凹部扩大成第三轮廓;然后,在具有第三轮廓的凹部中形成源极-漏极结构。本发明还提供了一种高性能应变源极-漏极结构。
申请公布号 CN102479753A 申请公布日期 2012.05.30
申请号 CN201110220721.X 申请日期 2011.08.02
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 宋学昌;蔡明桓;林宪信;郑振辉;范玮寒
分类号 H01L21/8234(2006.01)I;H01L27/088(2006.01)I 主分类号 H01L21/8234(2006.01)I
代理机构 北京德恒律师事务所 11306 代理人 陆鑫;高雪琴
主权项 一种方法,包括:提供基板;在所述基板上形成栅极结构;在接近所述栅极结构的位置上形成袋状注入区域;在邻近所述栅极结构的位置上形成隔离件;实施干式蚀刻,以形成具有第一轮廓的凹部;实施湿式蚀刻,以将所述凹部扩大成第二轮廓;实施热蚀刻,以将所述凹部扩大成第三轮廓;以及在具有第三轮廓的所述凹部中形成源极‑漏极结构。
地址 中国台湾新竹