| 摘要 |
<p>Dans un mode de réalisation, un procédé pour tester un circuit intégré à radiofréquence comporte le fait de produire des signaux de test à haute fréquence en utilisant le circuit de test sur puce, de mesurer les niveaux de signal en utilisant des détecteurs de puissance sur puce et de commander et de surveiller le circuit de test sur puce en utilisant des signaux basse fréquence. Le circuit RFIC est configuré pour fonctionner à haute fréquence, et un circuit de test sur puce qui comporte un circuit de production de fréquence et configuré pour fonctionner pendant des modes de test</p> |
