| 摘要 |
Die Erfindung betrifft einen Probenhalter (20) zur Aufnahme einer Probe (23), insbesondere für die spektroskopische Materialprüfung, mit einer Probeaufnahmevorrichtung (21) zum Einspannen der Probe (23), der ein Haltemittel (22) zugeordnet ist, das wenigstens zwei von der Probenaufnahmevorrichtung (21) abragende Zapfen (24) für ein Greifmittel aufweist. Ferner betrifft die Erfindung eine Aufnahmevorrichtung (30), ein Probenhaltermagazin (10), ein Probenzuführungssystem (50), eine Einspannvorrichtung (60) und eine Prüfeinrichtung (70). |
