发明名称 测量折射率和温度的方法和光纤传感器及相应的制造方法
摘要 本发明涉及一种测量折射率和温度的方法,其中包括步骤:在单模光纤的纤芯内制作光纤光栅,在所述光纤光栅上钻刻多个微孔;将所述光纤光栅浸入被测量的物质中;通过测量所述光纤光栅的谐振波长的偏移计算出所述被测量的物质的温度;通过测量由所述微孔造成的谐振峰的强度计算出所述被测量的物质的折射率。本发明还涉及一种相应的光纤传感器和同时测量折射率和温度的测量装置以及光纤传感器的制造方法。本发明的测量折射率和温度的方法和光纤传感器及相应的制造方法只通过分析光纤光栅的透射光谱即可对温度和折射率同时进行测量,并且装置制造简单方便,避免了测量折射率和温度的光纤传感器需要同时测量两个特征波长,解调系统比较复杂的缺陷。
申请公布号 CN102466528A 申请公布日期 2012.05.23
申请号 CN201010540335.4 申请日期 2010.11.11
申请人 香港理工大学 发明人 王东宁;廖常锐;杨民蔚
分类号 G01K11/32(2006.01)I;G01N21/41(2006.01)I;G01D5/32(2006.01)I 主分类号 G01K11/32(2006.01)I
代理机构 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 代理人 郭伟刚
主权项 一种测量折射率和温度的方法,其特征在于,包括步骤:S1、在单模光纤的纤芯内制作光纤光栅,在所述光纤光栅上钻刻多个微孔;S2、将所述光纤光栅浸入被测量的物质中;S3、通过测量所述光纤光栅的谐振波长的偏移计算出所述被测量的物质的温度;通过测量由所述微孔造成的谐振峰的强度计算出所述被测量的物质的折射率。
地址 中国香港九龙红磡