发明名称 | 多片适配卡测试方法 | ||
摘要 | 本发明揭露一种多片适配卡测试方法,包含下列步骤:使计算机系统的主机板的多个装置插槽上插入多个待测适配卡;将计算机系统开机以启动操作系统;对待测适配卡对应装置插槽的映像表进行设定,以锁住映射表中的多个参数;对待测适配卡分别进行启动流程以及测试流程;当待测适配卡其中一部分完成测试流程,对待测适配卡的该部分进行关闭流程以及移除程序,以将待测适配卡的该部分自对应的装置插槽移除;以及插入其它待测适配卡于已移除的该部分对应的装置插槽以分别执行启动流程、测试流程、关闭流程以及移除程序。 | ||
申请公布号 | CN102455959A | 申请公布日期 | 2012.05.16 |
申请号 | CN201010518698.8 | 申请日期 | 2010.10.18 |
申请人 | 英业达股份有限公司 | 发明人 | 金志仁;宋建福 |
分类号 | G06F11/22(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/22(2006.01)I |
代理机构 | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人 | 陈红 |
主权项 | 一种多片适配卡测试方法,其特征在于,包含下列步骤:使一计算机系统的一主机板的多个装置插槽上插入多个待测适配卡;将该计算机系统开机以启动一操作系统;对该多个待测适配卡对应该多个装置插槽的一映像表进行设定,以锁住该映射表中的多个参数;对该多个待测适配卡分别进行一启动流程以及一测试流程;当该多个待测适配卡其中一部分完成该测试流程,对该多个待测适配卡的该部分进行一关闭流程以及一移除程序,以将该多个待测适配卡的该部分自对应的该多个装置插槽移除;以及插入至少一其它待测适配卡于已移除的该部分对应的该多个装置插槽以分别执行该启动流程、该测试流程、该关闭流程以及该移除程序。 | ||
地址 | 中国台湾台北市士林区后港街六十六号 |