发明名称 具有改良载子移动性之垂直双闸极场效电晶体(FINFET)及其形成方法
摘要 一种垂直双闸极MOSFETs(FinFET)装置使用应变矽(strained silicon)来改良载子移动性。于一方法中,将FinFET基体(46)图案化形成一层矽锗(silicon germanium,SiGe)(42)覆盖于电介质层上(40)。接着形成矽磊晶层(34)于该矽锗FinFET基体(46)上。由于本质矽以及作为磊晶矽生长之模板的矽锗晶格尺寸不同,因而于磊晶矽中产生应变(strain)。应变矽比放松的矽(relaxed silicon)具有更高的载子移动性,因此磊晶应变矽于FinFET中提供较高的载子移动性。将应变矽通道层利用于FinFET中可实现较高的驱动电流。
申请公布号 TWI364095 申请公布日期 2012.05.11
申请号 TW092126057 申请日期 2003.09.22
申请人 高级微装置公司 美国 发明人 林明仁;丘政锡;王海宏;相奇
分类号 H01L21/84;H01L29/786 主分类号 H01L21/84
代理机构 代理人 洪武雄 台北市中正区博爱路35号9楼;陈昭诚 台北市中正区博爱路35号9楼
主权项
地址 美国