发明名称 |
激光加工方法和芯片 |
摘要 |
本发明提供一种激光加工方法,其能够进行沿着切割预定线的加工对象物的高精度的切割。通过将聚焦点对准硅晶片(11)的内部在加工对象物(1)上照射激光,并使聚焦点沿着切割预定线(5)相对移动,由此,沿着切割预定线(5)分别形成位于加工对象物(1)的内部的改质区域(M1)、(M2)之后,在加工对象物(1)的内部形成位于改质区域(M1)和改质区域(M2)之间的改质区域(M3)。 |
申请公布号 |
CN101100018B |
申请公布日期 |
2012.04.25 |
申请号 |
CN200710126927.X |
申请日期 |
2007.07.03 |
申请人 |
浜松光子学株式会社 |
发明人 |
杉浦隆二;坂本刚志 |
分类号 |
B23K26/00(2006.01)I;B23K26/08(2006.01)I;H01L21/301(2006.01)I |
主分类号 |
B23K26/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 |
代理人 |
龙淳 |
主权项 |
一种激光加工方法,其特征在于,通过将聚焦点对准板状的加工对象物的内部照射激光,从而沿着所述加工对象物的切割预定线,在所述加工对象物的内部形成成为切割的起点的改质区域,所述加工对象物具有一表面和与该一表面相对的另一表面,包括:从所述一表面入射激光,沿着所述切割预定线,形成在所述加工对象物的厚度方向上排列的第1改质区域和第2改质区域的工序;在所述形成第1改质区域和第2改质区域的工序之后,从另一表面照射激光并透过所述第1改质区域或所述第2改质区域的任意一个所述区域,由此,沿着所述切割预定线,形成位于所述第1改质区域与所述第2改质区域之间的第3改质区域的工序。 |
地址 |
日本静冈县 |