发明名称 发射系数测量仪
摘要 本实用新型涉及一种发射系数测量仪,该发射系数测量仪包含真空罩、光学系统、辐射测量系统和黑体炉装置;真空罩(18)为矩形真空罩体,其内设有光学系统和黑体炉装置,该测量仪结构简单,操作方便,其能对物体的发射系数进行准确而快速的测量,且在测量中,保证了条件的相同,提高了测量的精度和效率。
申请公布号 CN202196029U 申请公布日期 2012.04.18
申请号 CN201120296505.9 申请日期 2011.08.16
申请人 武汉迪凯光电科技有限公司 发明人 王保奎
分类号 G01N25/20(2006.01)I 主分类号 G01N25/20(2006.01)I
代理机构 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 代理人 王泽云
主权项 一种发射系数测量仪,该发射系数测量仪包含真空罩、光学系统、辐射测量系统和黑体炉装置;真空罩(18)为矩形真空罩体,其内设有光学系统和黑体炉装置,其特征在于:该黑体炉装置包含黑体腔(9)、锁紧法兰(11)、感应圈(16)和外壳(17),黑体腔(9)两端具有相互隔开的开口,其左端的开口为黑体辐射开口,其右端的开口为试样辐射开口,该试样辐射开口设有试样凹槽以放置待测试(10),在试样凹槽外侧设有内螺纹,一锁紧法兰(11)位于该试样辐射开口且具有与该内螺纹啮合的外螺纹以将待测试样(10)固定于试样凹槽内,感应圈(16)均匀的螺旋围绕该黑体腔(9)的外围,该感应圈(16)的两端分别为A电极(19)和B电极(20);该光学系统包含第一反射镜(1)、第二反射镜(2)、中间反射镜(3)、第三反射镜(4)、第四反射镜(5)、测量窗口(6)和伺服电机(7);该第一反射镜(1)位于黑体辐射开口外侧以将黑体辐射开口的射出红外线朝下方反射,该第三反射镜(3)位于该第一反射镜(1)的下侧以将从第一反射镜(1)的反射红外线朝中间反射镜(3)反射;该第二反射镜(2)位于试样辐射开口外侧以将试样辐射开口的射出红外线朝下方反射,该第四反射镜(5)位于该第二反射镜(2)的下侧以将从第二反射镜(2)的反射红外线朝中间反射镜(3)反射;该中间反射镜(3)设置于第二反射镜(3)和第四反射镜(5)的中间位置以将第二反射镜(3)和第四反射镜(5)的反射红外线朝设置于真空罩(18)上的测量窗口(6)反射;伺服电机(7)设置于该中间反射镜(6)上以控制其转动。
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