发明名称 校准存储器系统中的写平整的起始值的方法
摘要 一种存储器控制器(12),其对多个存储器器件(24,26,28,30)中的每个执行读测试,以产生每个存储器器件的读延迟时间。存在主存储器器件(24)和存储器器件(26,28,30)的子集。对于子集中的每个存储器器件,将用于主存储器器件(24)的读延迟时间与存储器器件(26,28,30)的子集中的每个存储器器件的读延迟时间进行比较,以产生用于子集中的每个存储器器件的差分延迟。对于每个子集存储器器件,将主存储器器件的写测试起始时间与每个存储器器件的差分延迟组合,以产生用于每个存储器器件的写测试起始时间。用于每个存储器器件的写测试使用用于每个子集存储器器件的写测试起始时间来产生用于每个子集存储器器件的写发起时间。
申请公布号 CN102422360A 申请公布日期 2012.04.18
申请号 CN201080020480.8 申请日期 2010.04.20
申请人 飞思卡尔半导体公司 发明人 詹姆斯·A·韦尔克;迈克尔·P·乔治
分类号 G11C11/409(2006.01)I;G11C11/4076(2006.01)I;G11C11/407(2006.01)I 主分类号 G11C11/409(2006.01)I
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人 谢晨;刘光明
主权项 一种用于操作存储器的方法,包括:针对多个存储器器件中的每个存储器器件执行读测试,以产生所述多个存储器器件中的每个存储器器件的读延迟时间,其中,所述多个存储器器件包括主存储器器件和不包括所述主存储器器件的存储器器件的子集,其中,所述子集包括至少一个存储器器件;对于所述子集中的每个存储器器件,将用于所述主存储器器件的读延迟时间与所述存储器器件的子集中的每个存储器器件的读延迟时间进行比较,以产生用于所述子集中的每个存储器器件的差分延迟;对于所述子集中的每个存储器器件,将所述主存储器器件的写测试起始时间与所述每个存储器器件的差分延迟组合,以产生所述子集中的每个存储器器件的写测试起始时间;对于所述子集中的每个存储器器件,使用所述子集中的每个存储器器件的写测试起始时间来执行用于所述每个存储器器件的写测试,以产生用于所述子集中的每个存储器器件的写发起时间。
地址 美国得克萨斯