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Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur automatischen Fokussierung für die Mikroskopie schwach leuchtender Substrate, bei dem die Fokussierung zuerst im Durchlicht und danach in der Fluoreszenz stattfindet. Das Durchlicht weist annähernd die Wellenlänge der Fluoreszenz oder eine längere Wellenlänge als die Fluoreszenz auf. Die Fokussierung erfolgt durch computerunterstützte Auswertung digitaler Bilder in verschiedenen Schärfeebenen. Da die digitalen Bilder im Durchlicht erheblich kürzere Belichtungszeiten als die Bilder in der Fluoreszenz aufweisen, ist die kombinierte Fokussierung deutlich schneller, als wenn sie nur in der Fluoreszenz durchgeführt werden wurde. |
