侦测光碟片缺陷的装置与方法

摘要

本发明揭露一种侦测光碟片缺陷的装置与方法。其中，一般型缺陷侦测方法用以侦测光碟片的一般型缺陷区域，包括下列步骤：根据一信号源产生一第一信号，使得第一信号可维持在信号源的峰值附近并可以一第一下落速度下降；根据一信号源产生一第二信号，使得第二信号可维持在信号源的峰值附近并可以一第二下落速度下降；将第一信号减去一第一临界值后产生一第一切割信号；将第二信号减去一第二临界值后产生一第二切割信号；以及，将信号源与第一切割信号和该第二切割信号进行比较，当第一切割信号大于信号源时，一般型缺陷信号由一第一准位转换至一第二准位，当第二切割信号小于信号源时，该一般型缺陷信号由该第二准位转换至该第一准位。