发明名称 | 基于超声TOFD的缺陷离线判别方法 | ||
摘要 | 一种超声TOFD缺陷离线判别方法,其特征是它包括以下步骤:首先,利用超声检测仪对被检测体进行扫描,获取被检测体的直通波、底面回波和A扫描信号,并合成生成B/D扫描图像;其次,采用图像处理和直通峰值搜索相结合的方法,进行直通波、底面回波精确定位,完成超声图谱的计算机标定,得出被检测体的板厚值;第三,利用峰值校准、差分算法对有混叠近表面缺陷的直通波进行拉直和消除处理;第四,利用合成孔径聚集技术,对B扫描图像进行波束锐化和图像增强处理得到焊接缺陷的准确位置。本发明可实现近表面、内部缺陷的有效识别和精确定位,可广泛应用于超声波无损检测领域。 | ||
申请公布号 | CN102393422A | 申请公布日期 | 2012.03.28 |
申请号 | CN201110242199.5 | 申请日期 | 2011.08.22 |
申请人 | 江苏省产品质量监督检验研究院 | 发明人 | 朱宇宏;王燕;陈华斌;姚强 |
分类号 | G01N29/44(2006.01)I | 主分类号 | G01N29/44(2006.01)I |
代理机构 | 南京天华专利代理有限责任公司 32218 | 代理人 | 夏平;瞿网兰 |
主权项 | 一种缺陷超声TOFD检测离线判别方法,其特征是它包括以下步骤: 首先,利用超声检测仪对被检测体进行D扫描,获取被检测体的直通波、底面回波和A扫描信号,并合成生成D扫描图像; 其次,采用图像处理和直通峰值搜索相结合的方法,进行直通波、底面回波精确定位,完成超声图谱的计算机标定,得出被检测体的板厚值;第三,利用峰值校准、差分算法对有混叠近表面缺陷的直通波进行拉直和消除处理;第四,利用合成孔径聚集技术,对B扫描图像进行波束锐化和图像增强处理得到被检测体内缺陷的准确位置。 | ||
地址 | 210007 江苏省南京市光华东街5号 |