| 发明名称 | 偏振片的贴合精度检查方法以及贴合精度检查装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种偏振片的贴合精度检查方法以及偏振片的贴合精度检查装置，切断长尺寸的偏振片坯料的同时关于贴合在液晶面板的偏振片，可以在检查偏振片的贴合偏移量的同时，检查偏振片的尺寸以及垂直度。本发明涉及的偏振片的贴合精度检查方法包含观察贴合在液晶面板(2)的偏振片(3)的所有的四个角的观察工序和使用在上述观察工序中得到的观察数据，算出偏振片(3)的贴合偏移量、尺寸以及垂直度的运算工序。 | ||
| 申请公布号 | CN102395919A | 申请公布日期 | 2012.03.28 |
| 申请号 | CN201180001140.5 | 申请日期 | 2011.03.09 |
| 申请人 | 住友化学株式会社 | 发明人 | 井村圭太;土冈达也 |
| 分类号 | G02F1/13(2006.01)I;G02B5/30(2006.01)I;G02F1/1335(2006.01)I | 主分类号 | G02F1/13(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人 | 李晓 |
| 主权项 | 一种偏振片的贴合精度的检查方法，所述检查方法是切断长尺寸的偏振片坯料、且检查贴合在液晶面板上的偏振片的贴合精度的方法，其特征在于，包括以下工序：观察贴合在所述液晶面板上的偏振片的所有的四个角的观察工序；以及使用在所述观察工序中得到的观察数据，算出所述偏振片的贴合偏移量、尺寸以及垂直度的运算工序。 | ||
| 地址 | 日本东京都中央区新川二丁目27番1号 | ||