发明名称 | 相变材料的制备方法 | ||
摘要 | 一种相变材料的制备方法,包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底上形成非晶Si-SbxTe1-x材料层,其中0.1≤x≤0.9;在所述Si-SbxTe1-x复合材料的结晶温度之上,对所述Si-SbxTe1-x执行第一次退火工艺,使得其中的非晶Si和SbxTe1-x晶体形成分相;将退火后分相的非晶Si与SbxTe1-x的复合材料置于氢气氛中执行第二次退火工艺,使其中的非晶Si转变为微晶Si以形成微晶Si-SbxTe1-x复合相变材料;对所述微晶Si-SbxTe1-x复合相变材料执行加热退火脱氢工艺。相较于现有技术,本发明制备的是微晶Si-SbxTe1-x复合相变材料,微晶态的Si晶粒尺寸在3纳米至20纳米左右,缺陷比非晶态Si少,能有效抑制氧化,阻碍Si与SbxTe1-x的相互扩散,具有更稳定的特性。 | ||
申请公布号 | CN102386327A | 申请公布日期 | 2012.03.21 |
申请号 | CN201110376922.9 | 申请日期 | 2011.11.23 |
申请人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明人 | 宋志棠;夏梦姣;饶峰;刘波;封松林 |
分类号 | H01L45/00(2006.01)I | 主分类号 | H01L45/00(2006.01)I |
代理机构 | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人 | 李仪萍 |
主权项 | 一种相变材料的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:提供半导体衬底,在所述半导体衬底上形成非晶Si‑SbxTe1‑x材料层,其中0.1≤x≤0.9;在所述非晶Si‑SbxTe1‑x复合材料的结晶温度之上,对所述Si‑SbxTe1‑x层执行第一次退火工艺,使得其中的非晶Si和SbxTe1‑x晶体形成分相;将退火后分相的非晶Si与SbxTe1‑x晶体的复合材料置于氢气氛中执行第二次退火工艺,使其中的非晶Si转变为微晶Si以形成微晶Si‑SbxTe1‑x复合相变材料;对所述微晶Si‑SbxTe1‑x复合相变材料执行加热退火脱氢工艺。 | ||
地址 | 200050 上海市长宁区长宁路865号 |