发明名称 |
一种涂层中微量元素的测试方法 |
摘要 |
本发明提供了一种涂层中微量元素的测试方法,包括以下步骤:A、将原有压片机模具按比例缩小到直径分别为20mm、15mm、10mm和5mm;B、取适量硼酸粉末进行压片实验,从模具中选择出符合测试要求的圆片,继续进行下一步的实验;C、选择一种含有较多微量无机元素的标准粉末样品,运用从上一步选出的模具压成圆片,然后将圆片放在X-射线荧光能谱仪上进行初步测试;D、选择一套标准粉末样品进行多次回测实验,确认测试效果;E、进行长期稳定性效果测试,最终确认测试效果。本发明通过改进X-射线荧光能谱法的制样方法,来提高涂层中微量无机元素的测试精度和准确度。 |
申请公布号 |
CN102384923A |
申请公布日期 |
2012.03.21 |
申请号 |
CN201110221346.0 |
申请日期 |
2011.08.03 |
申请人 |
上海华碧检测技术有限公司 |
发明人 |
冯银巧 |
分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种涂层中微量元素的测试方法,其特征在于:该测试方法包括以下步骤:A、将原有压片机模具的尺寸按比例进行缩小,缩小后的模具尺寸分别为:φ20mm、φ15mm、φ10mm、φ5mm;B、取常规压片所用的硼酸粉末30mg,用不同尺寸的模具进行压片实验,记录能压成圆片时所用硼酸的量,压成的圆片在硬度和厚度方面应该符合常规X‑射线荧光能谱仪测试的要求,从模具中选择出一个或是几个能将硼酸压成符合测试要求的圆片,继续进行下一步的实验;C、选择一种含有较多微量无机元素的标准粉末样品,运用从上一步选出的模具压成测试需要的圆片,然后将圆片放在X‑射线荧光能谱仪上进行初步测试,从样品的谱图上进行判断实验效果;D、选择一套含有较多微量无机元素的标准粉末样品,然后运用选择的压片模具进行压片,运用经验系数法对X‑射线荧光能谱仪进行标定,然后多次回测一个或者多个标准样品,统计测试的平均值、标准偏差、相对标准偏差、极差等参数,与标准值进行对比,从而确认测试效果;E、长期稳定性效果测试:每天进行上一步中实验操作,持续一周,然后统计一周所做实验的数据,与标准样品中微量元素的标准进行对比,最终确认测试效果;F、取某种涂层样品进行测试。 |
地址 |
200433 上海市杨浦区国定东路300号3号楼105室 |