| 发明名称 |
Methods and System for On-Chip Decoder for Array Test |
| 摘要 |
The present invention provides devices capable of testing the electrical performance of thin-film transistor backplane arrays and methods for their use.
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| 申请公布号 |
US2012064643(A1) |
申请公布日期 |
2012.03.15 |
| 申请号 |
US201013259800 |
申请日期 |
2010.02.23 |
| 申请人 |
BAWOLEK EDWARD J.;MOYER CURTIS D.;VENUGOPAL SAMEER M. |
发明人 |
BAWOLEK EDWARD J.;MOYER CURTIS D.;VENUGOPAL SAMEER M. |
| 分类号 |
H01L21/66;G01R31/26 |
主分类号 |
H01L21/66 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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