发明名称 相变存储器相变层的制作方法
摘要 一种相变存储器相变材料的制作方法,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底上形成有介电层,所述介电层中形成有金属电极,所述金属电极分别位于半导体衬底的P型区域与N型区域上,所述介电层中还具有露出所述金属电极的通孔;在所述介电层与金属电极上形成相变材料,所述相变材料填充满所述介电层中的通孔;对所述半导体衬底进行化学机械抛光,移除所述介电层上的相变材料,所述化学机械抛光过程中,抛光面的光照度低于100勒克斯。本发明的相变存储器相变材料的制作方法通过降低化学机械抛光时抛光面的光照度,有效避免了光致腐蚀现象对相变层的影响,减少了相变层表面凹陷,产品良率也得以提高。
申请公布号 CN102376884A 申请公布日期 2012.03.14
申请号 CN201010267466.X 申请日期 2010.08.24
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 林静;钟旻;杨伟俊;向阳辉
分类号 H01L45/00(2006.01)I 主分类号 H01L45/00(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 骆苏华
主权项 一种相变存储器相变层的制作方法,其特征在于,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底上形成有介电层,所述介电层中形成有金属电极,所述金属电极分别位于半导体衬底的P型区域与N型区域上,所述介电层中还具有露出所述金属电极的通孔;在所述介电层与金属电极上形成相变材料,所述相变材料填充满所述介电层中的通孔;对所述半导体衬底进行化学机械抛光,移除所述介电层上的相变材料,所述化学机械抛光过程中,抛光面的光照度低于100勒克斯。
地址 201203 上海市浦东新区张江路18号