发明名称 等离子体沉浸离子注入工艺
摘要 本发明揭示一种用以通过一等离子体沉浸离子注入工艺将离子注入到一基板内的方法。在一实施例中,通过等离子体沉浸离子注入工艺将离子注入到基板内的方法包括:提供一基板至一处理腔室内;供应一气体混合物到该腔室内,其中该气体混合物包括一反应气体与一还原气体;以及将来自该气体混合物的离子注入到该基板内。在另一实施例中,该方法包括:提供一基板至一处理腔室内;供应一气体混合物到该腔室内,其中该气体混合物包括一反应气体与一含氢还原气体;以及将来自该气体混合物的离子注入到该基板内。
申请公布号 CN101558183B 申请公布日期 2012.03.14
申请号 CN200780044234.4 申请日期 2007.12.07
申请人 应用材料公司 发明人 李实健;卡提克·雷马斯瓦米;比亚吉欧·加洛;李东亨;马耶德·A·福阿德
分类号 C23C14/32(2006.01)I;C23C14/00(2006.01)I 主分类号 C23C14/32(2006.01)I
代理机构 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人 徐金国;陈红
主权项 一种通过一等离子体沉浸离子注入工艺将离子注入到一基板内的方法,至少包括:提供一基板至一处理腔室内;在该腔室内从一气体混合物产生一等离子体,其中该气体混合物包括一反应气体与一还原气体;以及通过该等离子体沉浸离子注入工艺将来自该等离子体的离子注入到该基板内,其中该反应气体包括BF3而该还原气体包括B2H6。
地址 美国加利福尼亚