发明名称 Photoresist Undercoat-Forming Material and Patterning Process
摘要 <p>본 발명의 포토레지스트 하층막 형성 재료는 반사 방지 효과가 있는 중간층과 조합함으로써 200 nm 이상의 막 두께로 충분한 반사 방지 효과를 발휘할 수 있는 만큼의 흡광 계수를 가지고, 기판 가공에 이용되는 CF/CHF계 가스 및 Cl/BCl계 가스 에칭의 속도도 통상의 m-크레졸 노볼락 수지보다 강고하며 높은 에칭 내성을 갖는다. 패터닝 후의 레지스트 형상도 양호하다.</p>
申请公布号 KR101121386(B1) 申请公布日期 2012.03.09
申请号 KR20070050150 申请日期 2007.05.23
申请人 发明人
分类号 G03F7/004;G03F7/09 主分类号 G03F7/004
代理机构 代理人
主权项
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