发明名称 |
PROCEDIMIENTO DE GESTION DE DEFECTOS DE UN SOPORTE DE GRABACION. |
摘要 |
Procedimiento de gestión de defectos para un soporte de almacenamiento de información, en el cual se graba una información de gestión de defectos temporal (TDDS) que incluye información sobre un estado de actualización de una estructura de gestión de defectos temporal (TDMS), que comprende leer a partir de un soporte de almacenamiento de información cargado la información de gestión de defectos temporal (TDDS), que incluye la información sobre un estado de actualización de una estructura de gestión de defectos temporal (TDMS); y cuando la información de gestión de defectos temporal (TDDS) incluye información que especifica que el estado de actualización de la estructura de gestión de defectos temporal (TDMS) es "abierto", determinar que la actualización de la estructura de defectos temporal (TDMS) no se ha completado, y cuando la información de gestión de defectos temporal (TDMS) incluye información referente a que el estado de actualización de la estructura de gestión de defectos temporal (TDMS) es "cerrado", determinar que la actualización de la estructura de defectos temporal (TDMS) se ha completado.
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申请公布号 |
ES2374867(T3) |
申请公布日期 |
2012.02.22 |
申请号 |
ES20090173936T |
申请日期 |
2004.04.22 |
申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. |
发明人 |
HWANG, SUNG-HEE;KO, JUNG-WAN |
分类号 |
G11B7/0045;G11B7/0037;G11B7/007;G11B20/18;G11B27/32 |
主分类号 |
G11B7/0045 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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