发明名称 高功率高光束质量光学相控阵扫描装置
摘要 一种高功率高光学质量光学相控阵扫描装置,该装置依次由主振激光器、达曼光栅分束器、第一傅立叶透镜、电控相控阵、第二傅立叶透镜、激光放大器阵列、达曼输入相位平板、第三傅立叶透镜、合束相位补偿器。本发明提供一种高功率高光束质量光学相控阵扫描装置,实现高指向精度、高分辨率和快速高功率激光光束的无机械扫描。具有结构和原理简单,不需复杂相位精确检测,性能稳定可靠的特点,可广泛应用于需要大功率激光发射源以及无机械激光光束扫描的相关领域,特别适用于远程激光雷达、激光武器等领域,对于发展紧凑型、轻量化和高光束质量的高功率激光器和光束扫描系统具有实际意义。
申请公布号 CN102354056A 申请公布日期 2012.02.15
申请号 CN201110332273.2 申请日期 2011.10.27
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 闫爱民;刘立人;孙建锋
分类号 G02B27/44(2006.01)I;G02B5/18(2006.01)I 主分类号 G02B27/44(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 张泽纯
主权项 一种高功率高光束质量光学相控阵扫描装置,其特征在于该装置依次由主振激光器(1)、达曼光栅分束器(2)、第一傅立叶透镜(3)、电控相控阵(4)、第二傅立叶透镜(5)、激光放大器阵列(6)、达曼输入相位平板(7)、第三傅立叶透镜(8)和合束相位补偿器(9)构成,所述的达曼光栅分束器(2)和电控相控阵(4)分别置于所述的第一傅立叶透镜3的物面和频谱面上;所述的电控相控阵(4)和激光放大器阵列(6)的前端面分别放置于第二傅立叶透镜(5)的物面和频谱面上;所述的达曼输入相位平板(7)和合束相位补偿器(9)分别放置于所述的第三傅立叶透镜(8)的物面和频谱面上。
地址 201800 上海市嘉定区800-211邮政信箱
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