电性测试方法及其测试机台

摘要

一种电性测试方法，其至少包含下列步骤：首先，提供一包含有至少一测试区及一散热装置之测试机台；接着，放置一半导体封装件于该测试区；之后，于高温状态下对该半导体封装件进行一第一次电性测试步骤；接着，利用该散热装置进行一冷却步骤使该测试区之温度降至常温；最后，于常温状态下对该半导体封装件进行一第二次电性测试步骤。