发明名称 | 集成电路嵌入式存储器的修复系统、装置及方法 | ||
摘要 | 本发明披露了集成电路嵌入式存储器的修复系统、装置及方法,其中系统包括相互连接的嵌入式存储器装置和存储器自检修复装置,其中:嵌入式存储器装置接受存储器自检修复装置的自检,并在存储器自检修复装置输出的修复控制信号的控制下,用冗余存储器替换被自检出有缺陷的存储器;存储器自检修复装置对嵌入式存储器进行自检,针对自检出有缺陷的存储器生成修复编码信息,并采用嵌入式非易失性存储器保存修复编码信息,同时向嵌入式存储器装置输出修复控制信号。本发明能够在集成电路的普通工作电气条件下自动高效地完成对嵌入式静态存储器的修复。 | ||
申请公布号 | CN102339649A | 申请公布日期 | 2012.02.01 |
申请号 | CN201110122102.7 | 申请日期 | 2011.05.12 |
申请人 | 大唐微电子技术有限公司 | 发明人 | 王松 |
分类号 | G11C29/44(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/44(2006.01)I |
代理机构 | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人 | 栗若木;王漪 |
主权项 | 一种集成电路嵌入式存储器的修复系统,其特征在于,包括相互连接的嵌入式存储器装置和存储器自检修复装置,其中:嵌入式存储器装置,用于接受存储器自检修复装置的自检,并在存储器自检修复装置输出的修复控制信号的控制下,用冗余存储器替换被自检出有缺陷的存储器;存储器自检修复装置,用于对嵌入式存储器进行自检,针对自检出有缺陷的存储器生成修复编码信息,并采用嵌入式非易失性存储器保存修复编码信息,同时向嵌入式存储器装置输出所述修复控制信号。 | ||
地址 | 100094 北京市海淀区永嘉北路6号 |