发明名称 |
一种电子产品平均无故障工作时间验证的实验方法 |
摘要 |
本发明提供了一种电子产品平均无故障工作时间验证的实验方法,包括以下步骤:A、确定待验证的产品的平均无故障工作时间以及置信度;B、综合估算产品在高温下的失效激活能;C、设计产品的使用状态为试验运行状态;D、在设定的高温下运行产品,依据产品的平均无故障工作时间、置信度、允许的失效数量以及高温状态对常温状态的加速倍率,设计一个加速寿命试验时间;E、试验过程监控其失效数量分布,并计算产品平均无故障工作时间区间范围。本发明可以短时间对电子产品投入市场使用后的返修率进行一个比较可靠的评估;本发明有利于在电子产品研发阶段,在相对较短的时间内暴露产品的缺陷,以此改进并不断提高电子产品整体的平均无故障工作时间。 |
申请公布号 |
CN102339424A |
申请公布日期 |
2012.02.01 |
申请号 |
CN201110221316.X |
申请日期 |
2011.08.03 |
申请人 |
上海华碧检测技术有限公司 |
发明人 |
李红高 |
分类号 |
G06Q10/00(2012.01)I |
主分类号 |
G06Q10/00(2012.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种电子产品平均无故障工作时间验证的实验方法,其特征在于:该方法包括以下步骤:A、确定待验证的产品的平均无故障工作时间以及置信度;B、综合估算产品在高温下的失效激活能;C、设计产品的使用状态为试验运行状态;D、在设定的高温下运行产品,依据产品的平均无故障工作时间、置信度、允许的失效数量以及高温状态对常温状态的加速倍率,设计一个加速寿命试验时间;E、试验过程中监控其失效数量分布,并计算产品平均无故障工作时间区间范围。 |
地址 |
200433 上海市杨浦区国定东路300号3号楼105室 |