发明名称 |
集成电路开短路测试系统 |
摘要 |
本实用新型公开了一种集成电路开短路测试系统,包括电源模块、测试模块、统计模块、控制模块和显示模块;所述电源模块连接集成电路芯片,所述测试模块的受控端连接所述控制模块,测试模块的测量端连接所述集成电路芯片,测试模块的输出端连接所述统计模块,所述统计模块连接所述显示模块。本实用新型可在显示模块上详细显示出集成电路的异常信息,开路或短路是哪个引脚,并统计该引脚开路或短路的次数,方便及时了解集成电路的不良情况并为集成电路的失效分析提供必要的依据。 |
申请公布号 |
CN202119855U |
申请公布日期 |
2012.01.18 |
申请号 |
CN201120171770.4 |
申请日期 |
2011.05.26 |
申请人 |
深圳市矽格半导体科技有限公司 |
发明人 |
陈贤明;林宽强 |
分类号 |
G01R31/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/02(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市博锐专利事务所 44275 |
代理人 |
张明 |
主权项 |
一种集成电路开短路测试系统,其特征在于,包括电源模块、测试模块、统计模块、控制模块和显示模块;所述电源模块连接集成电路芯片,所述测试模块的受控端连接所述控制模块,测试模块的测量端连接所述集成电路芯片,测试模块的输出端连接所述统计模块,所述统计模块连接所述显示模块。 |
地址 |
518000 广东省深圳市宝安区西乡黄田金碧工业区11栋 |